начало                       •         Санкт-Петербургский государственный университет                 •         Научный парк         •             тел./факс        


 ❋      Главная

 ❋      Оборудование

 ❋      Обучение

 ❋      Документы

 ❋      Сотрудники

 ❋      Направления исследований

 ❋      Публикации

 ❋      Контакты

 ❋      Вход в систему приема заявок

 ❋      Запись на выполнение работ

       

 ❋         English version

 

О Б О Р У Д О В А Н И Е

  • Система со сфокусированными электронным и ионным зондами QUANTA 200 3D (FEI , Нидерланды, 2006), на базе которой смонтирован аналитический комплекс Pegasus 4000 (EDAX, USA).
  • Quanta 200 3D - многофункциональный растровый электронный микроскоп с интегрированной системой фокусированного ионного пучка. Сочетание возможностей традиционного растрового электронного микроскопа (РЭМ) и фокусированного ионного пучка (ФИП) в одном приборе позволяет дополнить исследования материалов трёхмерным анализом объектов на нано уровне.

  • Настольный растровый электронный микроскоп-микроанализатор TM 3000 (HITAСHI, Япония, 2010)
  • Настольный сканирующий электронный микроскоп ТМ3000 чрезвычайно прост в управлении и имеет очень компактные размеры, что делает его идеальным для образовательных учреждений. Режим низкого вакуума позволяет исследовать непроводящие образцы без предварительного напыления. Удобный графический пользовательский интерфейс и простота в обслуживании позволяют использовать его в образовательном процессе. Прибор оснащен приставкой энергодисперсионного микроанализа OXFORD, что существенно расширяет круг решаемых задач.

  • Атомно-силовой микроскоп — зондовая нанолаборатория INTEGRA-AURA (NT-MDT, Россия, 2010)
  • Атомно-силовой микроскоп (АСМ) — зондовая нанолаборатория INTEGRA-AURA (NT-MDT, Россия) — сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения. Принцип работы АСМ основан на регистрации силового взаимодействия между поверхностью исследуемого образца и зондом. Исследования могут проводиться на воздухе, в вакууме и в жидкости, что открывает возможность изучения биомакромолекул и живых клеток. АСМ используется для изучения рельефа поверхности с разрешением от десятков ангстрем вплоть до атомарного.

  • Конфокальный лазерный микроскоп LEICA TCS SPE (Leica, Германия, 2007).
  • Конфокальный лазерный микроскоп Leica TCS SPE – это конфокальная система точечного сканирования со спектральным детектором для флуоресцентной регистрации пространственной структуры живых и фиксированных объектов. В качестве источника света служат лазеры, обладающие высокой интенсивностью и монохроматичностью излучения. В систему входит четыре твердотельных лазера с длиной волны 405, 488, 532, и 635 нм.
    Метод конфокальной микроскопии находит широкое применение в области биологии, медицины, биофизики, молекулярной и клеточной биологии. Он позволяет исследовать ткани на клеточном уровне в состоянии физиологической жизнедеятельности.

  • Стериомикроскоп Leica M205 C(Leica, Германия, 2007).
  • Стереомикроскоп с ручным и моторизованным управлением укомплектован объективами с разным рабочим расстоянием. Система электронного считывания увеличения позволяет легко реализовать повторяемость параметров при съемке и анализе изображений. Программный модуль мультифокальной реконструкции дает возможность получить фотографии с большой глубиной фокуса.

  • Поляризационный микроскоп Leica DM4500P (Leica, Германия, 2007).
  • Поляризационная научно-исследовательская система для специалистов в области наук о земле. Переключение между режимами проходящий/отраженный свет осуществляется нажатием одной кнопки без дополнительных настроек. Система освещения по Келлеру с автоматической настройкой обеспечивает оптимальные условия работы с постоянной цветовой температурой в зависимости от используемого объектива и метода исследований. Встроенный процессор запоминает и позволяет сохранять все параметры микроскопа на подключаемом компьютере. Револьвер на 6 объективов с независимой центровкой каждого. Линза Бертрана, интегрированная в штатив с отдельным механизмом фокусировки и диафрагмирования коноскопа.

  • Высоковакуумный напылитель углеродом для сканирующей микроскопии Q150T E (Quorum Technologies Ltd, Великобритания)
  • Высоковакуумный напылитель углеродом образцов для сканирующей электронной микроскопии с турбомолекулярным насосом. Источником напыления графита могут быть графитовые стержни или нить. Прибор оснащен роторно-планетарным столиком для образцов с возможностью наклона и системой измерения толщины графитового слоя. Станция имеет систему ионного травления для чистки апертур СЭМ.

Nota bene

ИЗ ИЗБРАННОГО

  

 

 ❋    Геологические объекты

 ❋    Микроорганизмы

 ❋    Разное